Разместить товар+
Москва
Описание

В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного а...Подробнее

1 519 ₽
Продавец:Буквоед
Код номенклатуры
447623
nodiscount
no
Описание
В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме. В конце каждой главы приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной.
.Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям.
.Для студентов среднего профессионального образования.
Основные характеристики
Производитель
Юрайт
Сер. номер
6441142
Доставка
Есть
Дополнительные характеристики
Код номенклатуры
447623
nodiscount
no
Сравнение цен