Рассмотрены основные закономерности формирования структуры и оптических характеристик примесных центров люминесценции в кристаллофосфорах на основе щелочно-галоидных кристаллов. Ввиду простоты структуры щелочно-галоидных...Подробнее
Рассмотрены основные закономерности формирования структуры и оптических характеристик примесных центров люминесценции в кристаллофосфорах на основе щелочно-галоидных кристаллов. Ввиду простоты структуры щелочно-галоидных кристаллов, они являются удобным модельным объектом для демонстрации указанных закономерностей, а также для применения экспериментальных и теоретических методов изучения структуры примесных дефектов и формирования спектров поглощения и излучения света такими дефектами. Полученные закономерности легко распространяются и на другие кристаллофосфоры. Описано применение методов EXAFS- и XEOL-спектроскопии для исследования локальной структуры примесных дефектов в кристаллофосфорах. Данные методы позволяют получать структурную информацию, недоступную для других методов исследования. Для научных работников, преподавателей, аспирантов и студентов, специализирующихся в области физики твердого тела, радиационной физики, физики люминофоров.
