Прибор изготовлен в виде открытой платы, с жидкокристаллическим дисплеем, тестовой ZIF-панелью и площадкой для SMD компонентов. Отсутствие корпуса продиктовано возможным подключением дополнительных плат. Схема тестера LC...Подробнее
Прибор изготовлен в виде открытой платы, с жидкокристаллическим дисплеем, тестовой ZIF-панелью и площадкой для SMD компонентов. Отсутствие корпуса продиктовано возможным подключением дополнительных плат. Схема тестера LCR-T4 выполнена на микроконтроллере mega328 (точное название — AtMEGA 328P AU), позволяющем реализовать измерение дополнительных параметров. Прошивка тестера LCR-T4 может быть изменена. Тестер LCR-T4 автоматически распознаёт тестируемый элемент и отображает два главных параметра, вместе со схемотехническим обозначением. Главная трудность проверки радиокомпонентов облегчается автоматическим определением расположения их выводов. Калибровка тестера LCR-T4 происходит при выборе соответствующего действия в меню. Возможные вопросы и уточнения: — Какие величины, кроме сопротивления, емкости конденсаторов, индуктивности катушек и коэффициента усиления транзисторов позволяет измерить прибор?проходное сопротивление конденсаторов и их потери, в процентах; ёмкость и падение напряжения на MOSFET; падение напряжения на биполярных транзисторах в открытом состоянии при автоматическом распознавании n-p-n/p-n-p; определение выводов тиристоров и симисторов; ёмкость, полярность и напряжение на диодах и диодных мостах; отображение наличия защитного диода в транзисторах; измерение JFET, D-MOS, E-MOS и IGBT. — Какие возможности можно добавить к прибору самостоятельно?тестирование характеристик стабилитронов с Uстаб> 4 В; защита портов; работа в качестве генератора и измерителя частот; подключение графического и/или цветного дисплея. Характеристики: Диапазон измерения емкости 25 пФ – 100 мФ с точностью 1%Точность измерения емкости ± 1%Диапазон измерения индуктивности 0,01 м Гн – 20 Гн с точностью 1%Точность измерения индуктивности ± 1%Диапазон измерения сопротивления 0,1 Ом – 50 МОм с точностью 1%Точность измерения сопротивления ± 1%Тестируемые компоненты биполярные транзисторы (PNP, NPN); полевые транзисторы (MOSFET) P- и N-канальные; JFET транзисторы; диоды и светодиоды; резисторы; полярные и неполярные конденсаторы; элементы питания; катушки индуктивности; двойные диоды; симисторы; тиристоры; стабилитроны(< 5 В); дроссели;
