Высокая продуктивность нового сканера обеспечена технологией Epson Ready
Scan LED, благодаря которой устройство разогревается менее чем за минуту и мгновенно готово к началу сканирования. Светодиодные источники света практически не нагреваются при работе и поэтому полностью безопасны для самых деликатных материалов. Epson Ready
Scan LED также способствует значительному снижению энергопотребления.
Обновленные держатели для плёнок
Epson Perfection V850 Pro обеспечивают профессиональное качество и высокую продуктивность в работе с широким ассортиментом пленок, включая пленку и слайды 35 мм, средний формат и формат 9×12 см. Модель Epson Perfection V850 Pro с множеством функций идеально подойдет для профессионалов и продвинутых пользователей, ведь он снабжен двумя комплектами рамок для сканирования. Теперь производительность выросла в два раза!
Улучшенная конструкция держателей для пленки дает пользователям возможность более точно настраивать высоту держателя, регулируя таким образом положение точки фокусировки и добиваясь большей четкости. Новые держатели также снабжены специальными пластинами, которые прижимают пленку к стеклу и помогают избежать появления колец Ньютона при сканировании.
Совершенная оптическая система
Устройство снабжено двумя линзами, которые позволяют сканировать оригиналы с большим оптическим разрешением — 6400dpi для пленки и 4800dpi для фотографий. Необходимую линзу аппарат в каждом случае выбирает автоматически. Высокая оптическая плотность 4,0 DMax позволяет сканеру точно воспроизводить широкий спектр оттенков, особенно на затемненных участках оригиналов. А антибликовое покрытие High Pass Optics для линзы и зеркала помогает добиться наилучшего качества изображений и ускорить процесс сканирования.
Технология восстановления изображения
Модель снабжена технологией Digital ICE, которая помогает избавиться от различных дефектов при сканировании — пыли, волосков, царапин, отпечатков пальцев, сгибов и др., — помогая пользователям экономить время на ручной ретуши. Технология ICE использует сочетание инфракрасного излучения и сложных алгоритмов для обнаружения и удаления дефектов пленки.